条纹法提高成像分辨率的实验研究

• 作者: 吴健 彭仁军 邓蓉
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 成像 超分辨率 余弦条纹场 图像序列 激光干涉条纹
• 年，卷（期）: 2006,（11）
• 所属期刊栏目: 高功率激光与光学
• 页码范围: 1801-1803
• 页数: 3页
• 分类号: O439
• 字数: 2069字
• 语种: 中文

摘要

对利用条纹场照射目标以提高成像分辨率的方法进行了实验研究.条纹法提高成像分辨率的基本思想是,采用余弦条纹场照射目标,光学系统截止频率外的一部分高频分量将通过光学系统,通过对用多幅同频条纹场照射目标所获得的图像序列进行综合处理,可以获得超分辨率的图像.实验采用激光形成的干涉条纹场照射目标,共采用10幅余弦条纹场,各幅条纹场之间依次有1/10个周期的平移,对这10幅条纹场照射目标时所拍摄的图像进行综合处理,获得了分辨率提高的图像.实验结果证明了利用干涉条纹场照射目标获得超分辨率像这一方法的可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邓蓉		8	98	5.0	8.0
2	吴健		4	23	3.0	4.0
3	彭仁军		3	13	2.0	3.0