基于双线阵CCD的EPC/CPC数字测量系统

• 作者: 何平安 吴敏渊 张明建 彭晓钧 王卫平 项亚平
• 来源期刊: 光电子·激光
• 学科: 工学
• 关键词: 跑偏/对中(EPC/CPC) 纠偏 平行光投射系统 Chip LED CCD
• 年，卷（期）: 2006,（5）
• 所属期刊栏目: 测量·检测
• 页码范围: 608-611
• 页数: 4页
• 分类号: TN247
• 字数: 1958字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1005-0086.2006.05.024

摘要

针对目前带钢跑偏对中(EPC/CPC)的测量问题,提出了一种精度高、稳定性好的高速带钢EPC/CPC检测方案.该方案采用由Chip LED阵列和柱面透镜构成的平行光投射系统来照明,并利用高性能的线阵CCD来提取带钢边缘,同时开发了基于89C51单片机和CPLD器件的测量电路.详细介绍了该检测方案和EPC/CPC测量系统的组成.实验结果表明:该测量系统响应速度快、稳定性好,可使带钢卷取的齐整度控制在±0.1 mm范围内.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何平安	武汉大学电子信息学院光电工程系	44	302	10.0	16.0
2	彭晓钧	武汉大学电子信息学院光电工程系	2	33	2.0	2.0
3	王卫平		7	49	3.0	7.0
4	项亚平		4	51	3.0	4.0
5	张明建		2	33	2.0	2.0
6	吴敏渊	武汉大学电子信息学院光电工程系	23	297	10.0	17.0