低水峰光纤氢损寿命的评估

• 来源期刊: 网络电信
• 学科: 工学
• 关键词: G652D光纤 氢损 氢分压
• 年，卷（期）: 2006,（12）
• 页码范围: 57-59
• 页数: 3页
• 分类号: TN818

摘要

本文介绍了光纤产生氧损的机理，将光纤置于高氢分压气氛中，研究光纤氢吸收损耗特性。通过对数据的分析，预估光纤成缆铺设后使用期间受到氢侵蚀后的衰减增加状况，同时通过1atm高氢压的实验，对AOF光纤在水峰波长的抗氢损能力进行了验证。