X射线荧光光谱法测定釉料中主次痕量组份

• 作者: 余祖发 余荣台 李建英
• 来源期刊: 中国陶瓷
• 学科: 工学
• 关键词: 釉料 X射线荧光光谱仪 熔融法 理论α系数 基体效应校正
• 年，卷（期）: 2006,（11）
• 所属期刊栏目: 标准与检测
• 页码范围: 43-44
• 页数: 2页
• 分类号: TQ17
• 字数: 1523字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9642.2006.11.015

摘要

采用熔融玻璃法,用Axios型X射线荧光光谱仪(帕纳科公司)测定釉料中Fe2O3、Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、MnO、NiO、CuO、ZnO、ZrO2和PbO等组分含量.使用理论α系数和经验系数法校正基体效应,分析结果与化学法基本相符,除Na2O、MgO、CaO外,其余组分12次测定的相对标准偏差均小于10%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李建英		7	15	2.0	3.0
2	余荣台	江西景德镇陶瓷学院工程中心	3	16	3.0	3.0