正弦相位调制位移干涉测量技术中调制频率的优化选择

• 作者: 刘英明 王向朝
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 工学
• 关键词: 测量 正弦相位调制 调制频率 频谱分析
• 年，卷（期）: 2006,（11）
• 所属期刊栏目: 测量技术
• 页码范围: 1574-1579
• 页数: 6页
• 分类号: TH744.3
• 字数: 2944字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-7025.2006.11.027

摘要

针对正弦相位调制(SPM)干涉测量技术用于位移测量时,调制频率对干涉信号相位解调的影响,提出一种调制频率的优化选择依据.通过对干涉信号的频谱进行分析,发现当被测位移幅度较小时,较小的调制频率即可满足相位解调的要求;而当被测位移较大时,必须相应地增大调制频率,才能获得比较准确的测量结果.模拟计算以及实验结果表明,被测位移信号的幅度每增大四分之一测量光源波长,调制频率需要相应增大4倍于被测信号频率的大小,才能满足正弦相位调制位移干涉测量技术信号处理的需要.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王向朝	中国科学院上海光学精密机械研究所信息光学实验室	170	1628	23.0	35.0
2	刘英明	中国科学院上海光学精密机械研究所信息光学实验室	9	42	5.0	6.0