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摘要:
通过反应磁控溅射过程中的等离子体发射光谱,研究了制备ZnO薄膜的沉积温度、氧气流量比例R=O2/(O2+Ar)对Zn和O原子发射光谱的影响,并结合ZnO薄膜的结构和物理性能,探讨了沉积温度在ZnO薄膜生长中的作用.研究结果显示:当R≥0.75%时, Zn的溅射产额随R的增加基本呈线性下降规律.当R介于10%-50%时,氧含量的变化相对平缓,有利于ZnO薄膜生长的稳定性控制.Zn原子发射光谱强度随沉积温度的变化可以分为三个阶段.当沉积温度低于250 ℃时,发射光谱强度基本保持不变;当沉积温度介于250-550 ℃时,光谱强度随沉积温度的增加呈线性增加的趋势;当沉积温度大于550 ℃以后,光谱强度随沉积温度的增加而迅速增加.通过沉积温度的控制可以实现满足或接近化学计量配比的ZnO薄膜的生长,适合高质量ZnO薄膜沉积的温度介于650-800 ℃,750 ℃下沉积的ZnO薄膜具有比较低的缺陷密度和明显的室温紫外光致荧光发射.
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文献信息
篇名 磁控溅射ZnO薄膜生长的等离子体发射光谱研究
来源期刊 物理学报 学科 物理学
关键词 ZnO 薄膜生长 反应磁控溅射 等离子体发射光谱
年,卷(期) 2006,(8) 所属期刊栏目 凝聚物质:电子结构、电学、磁学和光学性质
研究方向 页码范围 4232-4237
页数 6页 分类号 O4
字数 5847字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1000-3290.2006.08.075
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李勇 大连理工大学三束材料改性国家重点实验室 16 335 9.0 16.0
2 张庆瑜 大连理工大学三束材料改性国家重点实验室 92 897 16.0 25.0
3 刘志文 大连理工大学三束材料改性国家重点实验室 12 264 8.0 12.0
4 孙成伟 大连理工大学三束材料改性国家重点实验室 7 221 6.0 7.0
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研究主题发展历程
节点文献
ZnO
薄膜生长
反应磁控溅射
等离子体发射光谱
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
物理学报
半月刊
1000-3290
11-1958/O4
大16开
北京603信箱
2-425
1933
chi
出版文献量(篇)
23474
总下载数(次)
35
总被引数(次)
174683
相关基金
国家自然科学基金
英文译名:the National Natural Science Foundation of China
官方网址:http://www.nsfc.gov.cn/
项目类型:青年科学基金项目(面上项目)
学科类型:数理科学
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