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摘要:
在热表面电离质谱计分析超微量钚同位素中,由于钚同位素产生的离子流强度较小,质谱计产生的本底干扰就必须加以考虑,才能提高钚同位素分析的准确度。本底干扰来源有:(1)仪器本身电子学系统产生的本底噪声;(2)离子流与残留的气体分子碰撞后发生散射而进入离子计数器的粒子;(3)离子源产生的本底。(1)和(2)可以忽略不计,干扰主要来源于离子源产生的本底。
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文献信息
篇名 热表面电离质谱分析超微量钚同位素时的本底干扰
来源期刊 中国工程物理研究院科技年报 学科 化学
关键词 本底噪声 热表面电离 钚同位素 干扰来源 超微量 质谱分析 同位素分析 电子学系统
年,卷(期) 2006,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 437
页数 1页 分类号 O657.63
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研究主题发展历程
节点文献
本底噪声
热表面电离
钚同位素
干扰来源
超微量
质谱分析
同位素分析
电子学系统
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中国工程物理研究院科技年报
年刊
四川省绵阳市919信箱805分箱
出版文献量(篇)
2158
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