科利登推出具有6．4G bps测试能力的Sapphires测试系统

• 来源期刊: 电子元器件应用
• 学科: 工学
• 关键词: 测试系统 测试能力 自动测试设备 科利登系统公司 Sun公司 4G 微处理器芯片
• 年，卷（期）: 2006,（7）
• 页码范围: 131
• 页数: 1页
• 分类号: TP274

摘要

来自美国加州苗必达市（Milpitas）的消息，科利登系统有限公司（Credence Systems Corporation）近日宣布：Sun Microsystems公司购买了科利登系统公司的、配置有D-6436的Sapphire^TM S的自动测试设备。实事上，D-6436是一款高性能高通道密度的功能测试设备，它主要用于调试和测试超过6．4Gbps的高速芯片。Sun公司将使用该系统测试和验证其下一代基于SPARC的多线程微处理器芯片的开发。