CCD成像传感器的降噪技术

• 作者: 王延杰 蔡荣太
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: CCD成像传感器 降噪技术 相关双采样 非均匀性校正
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 所属期刊栏目: 动态综述
• 页码范围: 607-612
• 页数: 6页
• 分类号: TN386.5
• 字数: 6628字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5868.2007.05.002

摘要

系统地介绍了CCD成像传感器降噪技术的研究进展.重点介绍和分析了CCD复位噪声降噪技术和非均匀性校正技术的研究进展.特别介绍了用于克服CCD复位噪声的数字域加权双斜积分技术、基于场景的非均匀性校正技术以及多CCD成像系统的非均匀性校正技术.最后展望并讨论了CCD成像传感器降噪技术的发展趋势.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王延杰	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	116	1871	21.0	38.0
2	蔡荣太	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	6	38	4.0	6.0