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摘要:
报告了自1900年以来通过与量子化霍尔电阻比对考核的国家直流电阻(实物)基准的长期漂移率及偏差.结果表明2001年以来,国家直流电阻(实物)副基准的漂移率为-0.0551 μΩ/a,主基准的漂移率为-0.0808 μΩ/a;2006年10月25日,国家直流电阻(实物)基准复现的电阻量值较量子化霍尔电阻的相对偏差为+0.677 μΩ/Ω,预计2007年1月1日需要修正-0.69 μΩ/Ω.
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文献信息
篇名 基于量子化霍尔电阻考核的国家电阻基准的稳定性
来源期刊 计量学报 学科 工学
关键词 计量学 电阻基准 漂移率 量子化霍尔电阻 气压系数
年,卷(期) 2007,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 97-101
页数 5页 分类号 TB971
字数 4888字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:1000-1158.2007.02.001
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 林飞鹏 10 29 4.0 5.0
2 贺青 51 216 9.0 11.0
3 张钟华 87 481 12.0 16.0
4 李正坤 42 197 8.0 11.0
5 邵海明 33 86 5.0 7.0
7 梁波 8 16 3.0 3.0
8 王昊 8 17 3.0 3.0
11 侯小京 1 6 1.0 1.0
传播情况
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引文网络
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