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残余应力测定的基本知识——第四讲 X射线应力测定方法(一)
残余应力测定的基本知识——第四讲 X射线应力测定方法(一)
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摘要：
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理化检验-物理分册
主办单位：
上海材料研究所
出版周期：
月刊
ISSN：
1001-4012
CN：
31-1338/TB
开本：
大16开
出版地：
上海市邯郸路99号
邮发代号：
4-183
创刊时间：
1963
语种：
chi
出版文献量（篇）
4196
总下载数（次）
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