在大量同质异位素干扰下的同位素稀释质谱法测定173Lu和174Lu

• 作者: 万可友 任向军 徐江 朱凤蓉 李志明 王长海 翟利华 黄能斌
• 来源期刊: 核化学与放射化学
• 学科: 化学
• 关键词: 同质异位素干扰 173Lu 174Lu 热表面电离同位素稀释质谱法(ID-TIMS)
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 27-31
• 页数: 5页
• 分类号: O657.6
• 字数: 3255字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0253-9950.2007.01.005

摘要

当2种以上元素在热表面电离质谱计(TIMS)蒸发带表面蒸发时,蒸气中各元素的比例随着蒸发带加热电流的变化而变化,相应质量数处离子流的比值也随之发生变化.据此原理,建立了大量同质异位素干扰下的同位素分析方法.该方法的可靠性在同质异位素干扰量为1 000倍的情况下得到了实验验证.结合该方法和热表面电离同位素稀释质谱法(ID-TIMS)分析了大量173Yb和174Yb干扰下放射性核素173Lu和174Lu在溶液中的浓度,173Lu和174Lu合成标准不确定度分别为0.45%和1.1%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	翟利华		46	95	5.0	6.0
2	万可友		16	22	3.0	3.0
3	徐江		27	50	3.0	5.0
4	朱凤蓉		20	85	5.0	8.0
5	李志明		37	75	4.0	5.0
6	黄能斌		4	17	2.0	4.0
7	王长海		8	16	3.0	3.0
8	任向军		11	57	4.0	7.0