半连续Ag纳米薄膜显微图像的多重分形谱研究

• 作者: 张德祥 钟维年 陈军宁 高清维
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 分形 纳米薄膜 显微图像 多重分形谱多 多灰度概率测度
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 所属期刊栏目: 电子信息材料与器件
• 页码范围: 948-951
• 页数: 4页
• 分类号: TB301
• 字数: 3446字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2007.05.038

摘要

多重分形谱是分形理论中最基本的一个数学概念,也是分形理论应用中最重要的一个方面.在解决实际问题中多重分形谱主要用来描述物理量不均匀的随机概率分布,通过对半连续Ag纳米薄膜显微图像结构形貌的分析和处理,以及通è过薄膜显微图像多灰度概率测度进行多重分形谱分析,用多重分形谱描述随薄膜厚度变化的Ag颗粒的空间分布的不均匀性.实验结果表明,多重分形谱是一种有意义的表征参数,能够从多分形角度对薄膜中Ag厚度的空间分布均匀性和尺寸分布进行定量化的分析和解释.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈军宁	安徽大学电子科学与技术学院	160	1135	16.0	26.0
2	高清维	安徽大学计算智能与信号处理重点实验室	54	723	14.0	26.0
6	张德祥	安徽大学计算智能与信号处理重点实验室	44	273	10.0	15.0
10	钟维年	安徽大学电子科学与技术学院	6	7	2.0	2.0