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摘要:
将自动微分算法扩展到实际非解析场时会出现误差,从算法原理和具体实现的过程中分析了误差的来源及其相应的减小措施,提出用高稳定性的三次样条曲线插值将数值求解的场解析成任意节点处的场及其各阶导数,可以直接进行轨迹追踪.改进后,自动微分法处理实际场的最大相对误差为6.401 46×10-3,计算结果和Munro 软件设计的一致,并且消除了传统像差在计算过程中用高斯轨迹取代实际轨迹引入的误差,能够满足高性能粒子光学设计的实际需要.
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内容分析
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文献信息
篇名 自动微分法求解粒子光学像差的精度分析
来源期刊 微细加工技术 学科 工学
关键词 自动微分 误差分析 有限元素法 样条函数
年,卷(期) 2007,(4) 所属期刊栏目 光子束技术
研究方向 页码范围 30-33,58
页数 5页 分类号 TN305.7
字数 4006字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 顾文琪 中国科学院电工研究所 53 189 8.0 11.0
2 李文萍 中国科学院电工研究所 3 5 1.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
自动微分
误差分析
有限元素法
样条函数
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微细加工技术
双月刊
1003-8213
43-1140/TN
大16开
湖南省长沙市
1983
chi
出版文献量(篇)
672
总下载数(次)
2
总被引数(次)
4940
论文1v1指导