电阻隔离测试技术的硬件电路实现

• 作者: 任冬 崔大海 张晶 汪滨琦
• 来源期刊: 应用科技
• 学科: 工学
• 关键词: 隔离测试 A/D D/A 仪表放大器
• 年，卷（期）: 2007,（7）
• 所属期刊栏目: 自动化技术
• 页码范围: 46-49
• 页数: 4页
• 分类号: TP216
• 字数: 2688字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-671X.2007.07.013

摘要

介绍了低值电阻的隔离测试技术,阐述基本方法及理论.在系统组成的框架上,应用单片机、A/D、D/A模块实现硬件电路的设计.简述了A/D、D/A模块的基本结构和与单片机的接口设计.在D/A模块设计中,采用8位精度DAC 2级锁存器实现16位的精度.通过台面试验,基本满足设计的测量要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	任冬	哈尔滨工程大学自动化学院	2	4	2.0	2.0
2	汪滨琦	哈尔滨工程大学自动化学院	37	205	8.0	13.0
3	张晶	哈尔滨工程大学自动化学院	33	219	8.0	14.0
4	崔大海	哈尔滨工程大学自动化学院	3	11	2.0	3.0