晶粒尺寸对FeS2薄膜微应变及光吸收特性的影响

• 作者: 刘艳辉 孟亮 汪洋
• 来源期刊: 无机材料学报
• 学科: 工学
• 关键词: FeS2 晶粒尺寸 微应变 禁带宽度
• 年，卷（期）: 2007,（1）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 143-147
• 页数: 5页
• 分类号: TN304
• 字数: 3461字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-324X.2007.01.029

摘要

采用不同厚度的Fe膜在673K热硫化20h制备出具有不同晶粒尺寸的FeS2薄膜,分析并测定了薄膜组织结构、微应变及光吸收性能.结果表明,Fe膜硫化形成的FeS2薄膜厚度在120～550 nm范围内变化时,可导致平均晶粒尺寸在40～80 nm之间变化.FeS2晶粒尺寸的变化造成了晶体面缺陷密度的变化,可引起微观内应力水平、缺陷能级分布和晶界势垒高度的变化,进而使得薄膜的微应变、点阵畸变度、光吸收系数及禁带宽度等物理特性随晶粒尺寸的增加而降低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孟亮	浙江大学材料与化学工程学院	74	680	15.0	21.0
2	刘艳辉	浙江大学材料与化学工程学院	17	117	6.0	10.0
3	汪洋	兰州交通大学光电技术与智能控制教育部重点实验室	21	121	8.0	10.0