基于DDS与MCU的运算放大器参数测量系统设计

• 作者: 刘红亮 肖振宇 黄龙杰
• 来源期刊: 电子设计应用
• 学科: 工学
• 关键词: 运放参数 DDS MCU 二分法
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 自控与测量
• 页码范围: 100-102
• 页数: 3页
• 分类号: TN7
• 字数: 1935字
• 语种: 中文

摘要

本文设计了一种由SPCE061控制核与DDS扫频信号源组成的测量系统,可自动测量集成运放输入失调电压ⅤIO、输入失调电流ⅠIO、交流差模开环电压增益AVD、交流共模抑制比KCMR和单位增益带宽BWG.测量精度由符合GB3442-82标准的标定电路校正.控制软件采用二分优化算法,提升了系统响应灵敏度,DDS的高分辨率则有效地改善了BWG测量精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖振宇	华中科技大学电子与信息工程系	2	8	1.0	2.0
2	刘红亮	华中科技大学电子与信息工程系	7	35	3.0	5.0
3	黄龙杰	华中科技大学电子与信息工程系	2	2	1.0	1.0