Buck同步整流电路MOSFET损耗的计算

• 作者: 叶俊 张峰
• 来源期刊: 电力电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 整流电路 损耗/金属氧化物半导体场效应晶体管
• 年，卷（期）: 2007,（12）
• 所属期刊栏目: 其他
• 页码范围: 109-111
• 页数: 3页
• 分类号: TM461
• 字数: 3023字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-100X.2007.12.038

摘要

在推导计算公式的基础上,对Buck同步整流电路中MOSFET管的损耗进行了细致的理论计算,并通过对CPU供电电路损耗的计算,验证了计算公式的正确性.虽然验证结果没有100%的吻合,但考虑实验条件及无法计算的因素,可以说结果还是可以接受的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张峰		160	957	14.0	26.0
2	叶俊		7	71	4.0	7.0