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摘要:
TiO2 thin films are prepared on fused silica with conventional electron beam evaporation deposition. After annealed at different temperatures for 4 h, the spectra and XRD patterns of the TiO2 thin film are obtained.Weak absorption of coatings is measured by the surface thermal lensing technique, and laser-induced damage threshold (LIDT) is determined. It is found that with the increasing annealing temperature, the transmittance of TiO2 films decreases. Especially when coatings are annealed at high temperature over 1173 K, the optical loss is very serious. Weak absorption detection indicates that the absorption of coatings decreases firstly and then increases, and the absorption and defects play major roles in the LIDT of TiO2 thin films.
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篇名 Influence of Annealing Temperature on Structure, Optical Loss and Laser-Induced Damage Threshold of TiO2 Thin Films
来源期刊 中国物理快报(英文版) 学科
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年,卷(期) 2007,(10) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 2967-2969
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中国物理快报(英文版)
月刊
0256-307X
11-1959/O4
16开
北京中关村中国科学院物理研究所内
1984
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