片上多处理器的层次化高速测试和验证技术

• 作者: 姚文斌 汪东升 郭松柳
• 来源期刊: 哈尔滨工程大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 片上多处理器 存储系统测试 并行测试 层次化验证
• 年，卷（期）: 2007,（5）
• 页码范围: 566-570
• 页数: 5页
• 分类号: TP303
• 字数: 2839字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-7043.2007.05.016

摘要

片上多处理器的体系结构具有高效、低功耗的特点,但由于整体逻辑规模较大,且存储系统有一致性的要求,因此其模拟器测试和验证的计算量大、复杂度高,整体采用传统的形式化测试方法测试速度慢.运用分隔测试技术可以在测试过程中降低整体计算的复杂度,将使用传统测试方法不能测试的复杂系统测试简单化;利用随机程序生成技术可以减少测试人员编写测试程序的时间并加速发现系统的错误,并行测试技术可以快速低功耗检验片上多处理器存储器系统的功能并具有良好的可扩充性.将上述测试方法集成在片上多处理器的测试中,能够对整体的计算量进行合理的分割和并行化,迅速定位整个系统的错误,大大缩减所需要的测试时间,降低了测试人员的工作量,提高测试结果的覆盖率和可信性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汪东升	清华大学微处理器与片上系统技术研究中心	74	1037	18.0	29.0
2	姚文斌	哈尔滨工程大学高可信计算技术研究中心	11	62	5.0	7.0
3	郭松柳	清华大学微处理器与片上系统技术研究中心	4	18	3.0	4.0