IRFPA的响应特性及新的非均匀校正算法

• 作者: 冷寒冰 彭鼎祥 汤心溢
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 红外焦平面阵列 积分时间 非均匀性校正
• 年，卷（期）: 2007,（7）
• 所属期刊栏目: 光电器件与系统
• 页码范围: 84-87
• 页数: 4页
• 分类号: TN214
• 字数: 2361字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2007.07.019

摘要

分析了红外焦平面阵列探测元的响应模型以及响应特性与入射辐射、积分时间的关系,指出了实际工程中常用的两点黑体辐射定标校正算法的本质在于利用高低温时不同的响应数据计算增益系数与偏置系数.与此相类似,通过调整积分时间也能得到不同的响应数据,因此提出基于积分时间调整的校正算法,利用不同积分时间下的响应数据计算校正时所需的增益系数与偏置系数.实验结果表明,选择合适的积分时间个数后,新方法校正效果优良,可完全用于工程应用,并可克服黑体定标校正算法的不足.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汤心溢	中国科学院上海技术物理研究所	77	751	14.0	22.0
2	冷寒冰	中国科学院上海技术物理研究所	8	53	3.0	7.0
3	彭鼎祥	中国科学院上海技术物理研究所	6	49	3.0	6.0