X射线不同方向辐照80C196KC20单片机研究

• 作者: 徐曦 牟维兵
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: X射线辐照 80C196KC20单片机 总剂量效应 衰减
• 年，卷（期）: 2007,（2）
• 所属期刊栏目: 粒子束技术
• 页码范围: 318-320
• 页数: 3页
• 分类号: O571.4|TN47
• 字数: 1615字
• 语种: 中文

摘要

为明确X射线不同方向入射对器件的影响,利用中国测试技术研究院的直流SJ-A X光机产生的X射线,从与垂直80C196KC20单片机表面不同方向角度对单片机进行辐照试验.试验结果显示,随着辐照角度由0°增加到90°,单片机所受的影响逐渐减小,90°时最不明显,表明此种单片机外壳在对其X射线总剂量效应的影响最大,原因在于X射线在不同方向照射时,需要穿过不同厚度的封套材料,X射线在此过程受到的衰减不同.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐曦	中国工程物理研究院电子工程研究所	19	91	6.0	8.0
2	牟维兵	中国工程物理研究院电子工程研究所	15	51	4.0	6.0