EE80C196KC20型单片机小系统的脉冲γ辐照效应实验研究

• 作者: 刘岩 李瑞宾 杨善潮 林东生 金晓明 陈伟 马强
• 来源期刊: 现代应用物理
• 学科: 物理学
• 关键词: 脉冲γ辐照 单片机系统 闩锁 瞬时扰动
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 所属期刊栏目: 辐射效应及加固技术
• 页码范围: 277-281
• 页数: 5页
• 分类号: O571.33
• 字数: 3173字
• 语种: 中文

摘要

在“强光一号”加速器上,对LM7805型电源芯片和EE80C196KC20型单片机进行了脉冲γ辐照效应实验研究,获得了单片机的闩锁阈值,并得到了单片机和电源芯片的扰动时间随剂量率的变化规律,从实验上证实了电源芯片对单片机脉冲γ辐照闩锁效应的抑制作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈伟		95	286	8.0	11.0
2	林东生		33	148	8.0	10.0
3	杨善潮		28	101	6.0	7.0
4	李瑞宾		13	28	3.0	4.0
5	马强		10	26	3.0	4.0
6	金晓明		11	16	2.0	2.0
7	刘岩		10	36	3.0	5.0