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摘要:
随着集成电路规模的不断增大,工艺尺寸的不断缩小,各种短沟效应及互连效应对电路性能的影响日益加重,时序收敛成为设计者面临的最棘手问题之一.时序验证是对电路的时序特性进行分析,检查设计能否满足性能要求,它在验证工作中占有非常重要的地位,是辅助设计人员寻找电路性能瓶颈的最主要手段.针对静态时序分析(STA)的应用,本文提出了为全定制单元建立时序模型的方法.这个方法考虑了信号渡越时间和输出负载的影响,经实验证明这个方法是可行的.
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文献信息
篇名 全定制单元时序模型的建立
来源期刊 中国集成电路 学科 工学
关键词 静态时序分析 时序模型 全定制
年,卷(期) 2007,(6) 所属期刊栏目 设计
研究方向 页码范围 32-36,18
页数 6页 分类号 TN4
字数 3134字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1681-5289.2007.06.006
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 蔡敏 华南理工大学物理科学与技术学院 47 250 10.0 13.0
2 罗松晖 华南理工大学物理科学与技术学院 1 1 1.0 1.0
3 杜明 华南理工大学物理科学与技术学院 1 1 1.0 1.0
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2010(1)
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研究主题发展历程
节点文献
静态时序分析
时序模型
全定制
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
中国集成电路
月刊
1681-5289
11-5209/TN
大16开
北京朝阳区将台西路18号5号楼816室
1994
chi
出版文献量(篇)
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