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从液晶面板的"像素结构"谈选购
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摘要：
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基于双向特征融合卷积神经网络的液晶面板缺陷检测算法
深度卷积神经网络
双向特征融合
缺陷检测
液晶面板
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电子世界
主办单位：
中国电子学会
出版周期：
半月刊
ISSN：
1003-0522
CN：
11-2086/TN
开本：
大16开
出版地：
北京市
邮发代号：
2-892
创刊时间：
1979
语种：
chi
出版文献量（篇）
36164
总下载数（次）
96
总被引数（次）
46655
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