基于多故障模型的并发测试生成方法

• 作者: 梁华国 欧阳一鸣 鲁传武
• 来源期刊: 计算机工程与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 故障压缩 多故障模型 并发测试集 并发故障
• 年，卷（期）: 2007,（29）
• 所属期刊栏目: 产品、研发、测试
• 页码范围: 113-115
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 2594字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1002-8331.2007.29.033

摘要

精简测试向量集是解决电路测试问题的一种行之有效的方法.针对故障电路,采用多故障模型方法可以简化有多个单故障的电路,且保持电路功能完整.论文在结构分析的基础上,利用多故障模型寻找故障集中的并发故障,建立并发关系图,并运用分团的思想对故障集中的并发故障进一步划分,以获得故障集的并发测试集.与传统的方法相比,并发测试生成将获得更加精简的测试向量集.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学计算机与信息学院	192	1611	19.0	30.0
2	欧阳一鸣	合肥工业大学计算机与信息学院	109	924	18.0	24.0
3	鲁传武	合肥工业大学计算机与信息学院	1	4	1.0	1.0