应用MXRF分析技术测定植物叶片中环境元素

• 作者: 丁训良 初学莲 孙洪波 杜晓光 林晓燕 程琳
• 来源期刊: 原子核物理评论
• 学科: 地球科学
• 关键词: 微束X射线荧光 X光透镜 植物叶片 环境污染
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 核技术
• 页码范围: 61-66
• 页数: 6页
• 分类号: O434.1|X831
• 字数: 3618字
• 语种: 中文

摘要

应用一种使用X光透镜的微束X射线荧光(MXRF)分析技术,对北京不同地区的松针中重金属元素及S元素含量进行了测定和分析,探讨了它们与大气污染之间的关系;根据受损松针与正常松针检测结果的比较,确定了污染元素.对小叶黄杨叶片中部进行了二维微区自动扫描,得出了小叶黄杨叶片对各种金属元素的抗污染能力.研究结果从方法学上验证了使用X光透镜的MXRF分析技术在测量环境样品中的应用,为环境科研、污染治理和环境管理提供了科学依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁训良	北京师范大学低能核物理研究所	10	27	4.0	5.0
2	林晓燕	北京师范大学低能核物理研究所	14	26	3.0	4.0
3	程琳	北京师范大学低能核物理研究所	7	7	2.0	2.0
4	初学莲	北京师范大学低能核物理研究所	1	5	1.0	1.0
5	孙洪波	北京师范大学低能核物理研究所	1	5	1.0	1.0
6	杜晓光	北京师范大学低能核物理研究所	1	5	1.0	1.0