长期存贮CCD的可靠性试验分析

• 作者: 吴琼瑶 尹燕萍
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 电荷耦合器件 外部检查 气密性检测 可靠性试验
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 可靠性与环境试验技术及评价
• 页码范围: 28-31
• 页数: 4页
• 分类号: TN751.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2008.03.008

摘要

采用外部检查和气密性检测等试验方法,对长期存贮的电荷耦合器件(CCD)的质量进行评价.对失效原因进行了分析,进而提出了在CCD的封装、贮存和运输过程中,提高CCD可靠性的具体方法,可保证其贮存寿命在10年以上.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴琼瑶	中国电子科技集团公司第四十四研究所	6	1	1.0	1.0
2	尹燕萍	中国电子科技集团公司第四十四研究所	2	1	1.0	1.0