(La0.6 Nd0.4)0.7Sr0.3 MnO3薄膜的厚度依赖的结构与输运性

• 作者: LI Jin-guang 单会会 吴文彬 周先意 李金光 金绍维
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 外延薄膜 晶格失配应变 金属-绝缘体转变
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 页码范围: 120-124
• 页数: 5页
• 分类号: O51
• 字数: 3140字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.2008.02.006

摘要

厚度为6～100 nm的(La0.6Nd0.4)0.7,Sr0.3MnO3(LNSMO)薄膜是由脉冲激光沉积生长在SrTiO3[STO(001)]衬底上.X-射线衍射(XRD)线扫描、ω-摇摆曲线和倒空间衍射显示,随着膜厚(t)的变化,薄膜的结构经历了由完全应变到部分弛豫的变化.电阻测量显示存在两个不同的厚度依赖的金属-绝缘体转变温度(Tp),对于应变的薄膜(t≤17 nm),Tp敏感地依赖于双轴应变和膜厚；而对较厚的薄膜(t≥35nm),Tp对于膜厚是较小敏感的.这个厚度依 赖的输运性的变化可被解释为菱形LNSMO的角度畸变诱导的应变和弛豫.我们的结果表明金属-绝缘体转变温度和相分离都受薄膜的应变态控制.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	金绍维	安徽大学物理与材料科学学院	25	43	4.0	5.0
3	吴文彬	中国科学技术大学合肥微尺度物质科学国家实验室	14	7	2.0	2.0
4	单会会	中国科学技术大学合肥微尺度物质科学国家实验室	3	3	1.0	1.0
7	李金光	安徽大学物理与材料科学学院	4	11	3.0	3.0
8	LI Jin-guang	安徽大学物理与材料科学学院	1	3	1.0	1.0