激励表面等离子共振的金属薄膜最佳厚度分析

• 作者: 吴英才 顾铮(先)
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 折射率 金属薄膜 全内反射 表面等离子共振
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 唯象论的经典领域
• 页码范围: 2295-2299
• 页数: 5页
• 分类号: O37
• 字数: 3264字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-3290.2008.04.048

摘要

根据电磁场在金属薄膜中的能量分布规律和金属薄膜具有复介电常数的特点,对激励表面等离子共振的金属薄膜的最佳厚度进行了探讨.指出金属薄膜的最佳厚度与激励光波长和金属薄膜的折射率有关,建立了描述它们之间关系的数学表达式,并用实验方法进行验证.将理论结果与他人的测量结果进行对比后发现,两者符合较好.研究结果表明:在角度调制下的表面等离子共振传感器,为了获得更高的灵敏度,可根据激励光波长和金属薄膜折射率的虚部确定所要制备金属薄膜的最佳厚度;在波长调制下,则由中心波长和折射率的虚部确定金属薄膜的最适宜使用厚度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴英才	广东海洋大学信息学院	7	105	4.0	7.0
3	顾铮(先)	上海理工大学理学院	22	69	5.0	8.0