晶体的杂散阻抗对晶体测量参数的影响

• 作者: 杨军
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 杂散阻抗 晶体元件 晶体参数测量
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: 测试技术与理论研究
• 页码范围: 499-504
• 页数: 6页
• 分类号: TN384
• 字数: 3526字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2008.06.006

摘要

仿真分析了在π网络测量法中,直插式晶体元件的引线电感和接触电阻对晶体元件参数测量的影响,以及晶体元件的寄生响应对测量的影响.分析结果表明,接触电阻和引线电感对串联谐振频率的影响较小,接触电阻对谐振电阻的大小有直接的影响,主模和寄生响应间隔与晶体参数的测量误差成正比.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨军		17	79	6.0	8.0