产品的二次筛选试验影响分析

• 作者: 王守政 王峙卫
• 来源期刊: 集成电路通讯
• 学科: 工学
• 关键词: 二次筛选 工序能力指数Cpk 漂移 分布图
• 年，卷（期）: jcdltx,（2）
• 页码范围: 37-40
• 页数: 4页
• 分类号: TB114.3

摘要

通过某种产品的二次筛选试验前后的参数数据分析，从一个侧面分析了二次筛选对产品造成的影响，定量的表征了影响的程度，为以后的二次筛选乃至一次筛选对产品寿命影响的全面分析奠定基础。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王守政		3	0	0.0	0.0
2	王峙卫		2	0	0.0	0.0