大屏幕TFT-LCD显示用Timing Controller的存储器测试

• 作者: 李博 杨君体 魏廷存 魏晓敏
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: TFT-LCD 时序控制器 存储器 内建自测试 March C
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 312-316
• 页数: 5页
• 分类号: TN141.9|TM571
• 字数: 2656字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2780.2008.03.011

摘要

基于March算法的存储器内建自测试电路能够获得很高的故障覆盖率,但在测试小规模的存储器时暴露出了面积相对比较大的缺点.针对大屏幕Timing Controller芯片"龙腾TC1"中4块640×18 bit SRAM"按地址递增顺序连续进行写操作"的工作特点,提出了一种新的存储器内建自测试方法.该方法按照地址递增顺序向存储器施加测试矢量,避免了直接采用March C算法所带来的冗余测试,简化了内建自测试电路,大大减少了由管子的数量和布线带来的面积开销,可达到March C+算法相同的"测试效果".

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李博	西北工业大学航空微电子中心	80	345	10.0	13.0
2	魏廷存	西北工业大学航空微电子中心	70	333	11.0	13.0
3	魏晓敏	西北工业大学航空微电子中心	14	38	3.0	5.0
4	杨君体	西北工业大学航空微电子中心	1	1	1.0	1.0