原文服务方: 湖南理工学院学报(自然科学版)       
摘要:
TFT-LCD MURA缺陷具有背景整体亮度不均、灰度变化不明显等特点,用基于机器视觉的方法从TFT-LCD图像中分割出缺陷是非常困难的.本文提出一种新的MURA缺陷检测方法,首先在分析TFT-LCD图像中背景与MURA缺陷灰度值差异的基础上,采用均值滤波和背景差分法来抑制背景杂波,然后采用灰度约束获取疑似MURA缺陷区域,最后提取疑似区域灰度特征并将其放入训练后的BP神经网络提取缺陷目标.结果显示,本文方法正确检测概率为98.1%,误检率为1.4%,平均检测时间为0.33秒.仿真实验结果表明,本文提出的方法对MURA缺陷的检测非常有效,且算法简单,实时性高,易于实现.
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文献信息
篇名 基于BP神经网络和均值差分的TFT-LCD MURA缺陷检测方法
来源期刊 湖南理工学院学报(自然科学版) 学科
关键词 机器视觉 BP神经网络 TFT-LCD MURA 缺陷检测
年,卷(期) 2017,(1) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 32-38
页数 7页 分类号 TP394.1|TH691.9
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郭龙源 湖南理工学院信息与通信工程学院 18 34 3.0 4.0
2 罗百通 湖南理工学院信息与通信工程学院 3 7 2.0 2.0
3 曾毅 湖南理工学院信息与通信工程学院 4 9 2.0 2.0
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湖南理工学院学报(自然科学版)
季刊
1672-5298
43-1421/N
大16开
1988-01-01
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