单片集成TFT-LCD驱动芯片内置SRAM验证技术研究

• 作者: 李博 梁茂 魏廷存 魏晓敏
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: TFT-LCD 内置SRAM 验证
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 91-95
• 页数: 5页
• 分类号: TN27|TP391
• 字数: 2982字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2780.2008.01.020

摘要

介绍了TFT-LCD驱动芯片内置SRAM验证方法:(1)采用模拟验证和形式验证相结合的前端设计验证方法,完成各模块的功能验证及整个SRAM的功能和时序验证.模拟验证技术,利用模拟工具对被测试模块施加测试激励信号,检查输出信号是否符合预期要求;模拟方法可以同时检查被测试模块的功能及时序方面的响应情况,能够全面体现电路的行为.形式验证技术,在集成电路设计中,是通过算法的手段进行等价性检查,比较两种设计之间的功能等价性.(2)采用结构化抽取寄生参数和建立关键路径的方法,完成SRAM性能的评估,即后端设计验证.并且用具体实例详细描述了以上方法在电路仿真验证中的应用,并给出了部分电路结构及仿真结果,进一步论述了该方法的可行性及实用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李博	西北工业大学软件与微电子学院	80	345	10.0	13.0
2	魏廷存	西北工业大学软件与微电子学院	70	333	11.0	13.0
3	魏晓敏	西北工业大学软件与微电子学院	14	38	3.0	5.0
4	梁茂	西北工业大学软件与微电子学院	3	11	2.0	3.0