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电子产品可靠性与环境试验期刊
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电场辐射敏感度测试系统
电场辐射敏感度测试系统
作者:
丁华
张萌
汪振科
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
电场辐射
敏感度
测试系统
摘要:
随着科学技术的发展,各种电子设备的广泛使用,电磁环境变得越来越复杂.因此,电子设备的电磁敏感度成为人们关注的焦点.介绍了一种电场辐射敏感度测试系统,论述了该系统建立的必要性、功能、系统组成及使用方法.
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期刊文献
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数
(/次)
(/年)
文献信息
篇名
电场辐射敏感度测试系统
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
电场辐射
敏感度
测试系统
年,卷(期)
2008,(6)
所属期刊栏目
安全与电磁兼容
研究方向
页码范围
13-15
页数
3页
分类号
TN03
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2008.06.004
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
丁华
中国电子科技集团公司第三十八研究所
6
16
3.0
4.0
2
张萌
中国电子科技集团公司第三十八研究所
9
9
2.0
2.0
3
汪振科
中国电子科技集团公司第三十八研究所
5
19
2.0
4.0
传播情况
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版权信息
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(1)
节点文献
引证文献
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同被引文献
(0)
二级引证文献
(0)
2001(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2008(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
电场辐射
敏感度
测试系统
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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