面向 SystemC 的软错误敏感度分析方法

• 作者: 何卫锋 徐东超 绳伟光
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 软错误敏感度 仿真故障注入 系统可靠性 SystemC 模型
• 年，卷（期）: 2015,（9）
• 页码范围: 60-64
• 页数: 5页
• 分类号: TN4
• 语种: 中文

摘要

随着集成电路不断发展，软错误问题日益凸显，对系统可靠性造成越来越严重的影响。通对电路软错误率的分析可以准确评估系统可靠性，并为系统加固提供帮助。提出了一种面向 SystemC 的快速软错误敏感度分析方法：以分层抽样策略对系统接口与内部所有信号进行故障注入，结合统计结果与面积因子，评估系统软错误敏感度。实验以基于 OR1200处理器最小系统的 SystemC 模型为对象，采用仿真故障注入方法构建测试平台，实现故障注入自动化。通过3个测试程序共计约30万次的注入实验，统计分析表明寄存器文件、PC 计算以及指令缓存模块对软错误更加敏感。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	绳伟光	上海交通大学微电子学院	14	80	3.0	8.0
2	何卫锋	上海交通大学微电子学院	35	100	4.0	9.0
3	徐东超	上海交通大学微电子学院	1	5	1.0	1.0