单粒子多瞬态诱导的组合电路软错误敏感性评估

• 作者: 李少甫 鄂长江 齐艺轲
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: FPGA 组合电路 单粒子多瞬态 软错误
• 年，卷（期）: 2019,（11）
• 页码范围: 16-19
• 页数: 4页
• 分类号: TN431.2
• 语种: 中文

摘要

为了评估数字电路的软错误敏感性,研究了一种适于FPGA的单粒子多瞬态(SEMT)诱导的组合电路软错误评估方法,考虑脉冲传输过程中受到的电气屏蔽的影响和辐射粒子入射的随机性,控制不同脉宽的SEMT脉冲对所有SEMT故障位置进行故障注入,统计错误结果.实验结果表明,该方法能对单粒子两个及以上瞬态诱导的组合电路软错误敏感性进行分析,得到各故障位置敏感度信息,供电路设计前端参考改进.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李少甫	西南科技大学信息工程学院	38	71	5.0	6.0
2	齐艺轲	西南科技大学信息工程学院	3	0	0.0	0.0
3	鄂长江	西南科技大学信息工程学院	1	0	0.0	0.0