基于SimpleSim-ARM模拟器的软错误易感性分析与评估

• 作者: 虞致国 顾晓峰 高苗 魏敬和
• 来源期刊: 计算机应用研究
• 关键词: 软错误 易感性分析 ACE分析 AVF评估 SimpleSim-ARM模拟器
• 年，卷（期）: 2020,（7）
• 所属期刊栏目: 系统应用开发
• 页码范围: 2054-2057,2062
• 页数: 5页
• 分类号: TP302
• 语种: 中文
• DOI: 10.19734/j.issn.1001-3695.2019.02.0026

摘要

随着集成电路特征尺寸的逐步缩小,随之而来快速增长的软错误率严重限制了现代微处理器的应用,因此对微处理器可靠性进行评估十分重要.在微处理器体系结构级进行软错误易感性评估能反映出微处理器部件的可靠性,提出基于SimpleSim-ARM模拟器对微处理器体系结构级进行软错误易感性评估的方法,可用于对ARM体系结构微处理器进行软错误易感性评估.根据提出方法对StrongARM SA-11xx进行软错误易感性分析,实验结果表明,在基准配置情况下,存储部件中寄存器文件的平均AVF值为57.76％;非存储部件发射队列(IQ)、保留站与重定序缓冲(RUU)与功能单元(FU)的平均AVF值分别为38.53％、32.02％和12.39％.在不同配置下,IQ和RUU部件容量越大,对应部件AVF评估值越小;FU数量越多,该部件AVF评估值越小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	顾晓峰	江南大学电子工程系物联网技术应用教育部工程研究中心	115	265	9.0	11.0
2	魏敬和	中国电子科技集团公司第五十八研究所	69	261	7.0	13.0
3	虞致国	江南大学电子工程系物联网技术应用教育部工程研究中心	26	46	4.0	5.0
4	高苗	江南大学电子工程系物联网技术应用教育部工程研究中心	1	0	0.0	0.0