微体系结构软错误易感性阶段特性研究

• 作者: 张承义 张民选 成玉 马安国
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 阶段行为 阶段识别技术 可靠性评估 软错误
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 计算机工程与应用
• 页码范围: 274-279
• 分类号: TP3
• 字数: 4142字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2012.02.020

摘要

软错误易感性的阶段特性对微处理器进行动态容错管理是当前软错误研究领域的热点.针对体系结构弱点因子AVF是最常用的软错误易感性评估指标之一,提出了一种快速有效的AVF评估框架,对微处理器关键部件的AVF值进行评估.基于基本块和性能参数信息捕获部件软错误易感性的阶段特性,并利用k路划分和回归树算法对部件的软错误易感性进行阶段划分.实验结果表明,结合性能参数信息和回归树算法能够最好地对软错误易感性的阶段特性进行识别.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张民选	国防科学技术大学计算机学院	63	351	9.0	16.0
2	成玉	国防科学技术大学计算机学院	3	10	2.0	3.0
3	马安国	国防科学技术大学计算机学院	2	8	2.0	2.0
4	张承义	国防科学技术大学计算机学院	3	12	2.0	3.0