组合电路SET传播特性与软错误率分析

• 作者: 周婉婷 廖家轩 李磊 靳丽娜
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: 单粒子瞬态 软错误率 SET传输 组合逻辑
• 年，卷（期）: 2015,（5）
• 页码范围: 130-133
• 分类号: TP302
• 语种: 中文

摘要

通过研究单粒子瞬态(Single Event Transient,SET)在逻辑链路中的传输,表明输入脉冲宽度对脉冲在传输过程中的展宽和衰减有重要影响.在辐照环境下,采用SET的传输模型和软错误率的分析模型评估软错误率.基于这两种模型,从门级角度对组合电路的软错误率分析进行了改善,使得软错误率评估方法得到改进.由于电气掩蔽效应对软错误分析具有重要的影响,在运用SET传输模型中考虑了电气掩蔽特性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李磊	电子科技大学电子科学技术研究院	39	150	6.0	10.0
2	周婉婷	电子科技大学电子科学技术研究院	13	27	3.0	4.0
3	廖家轩	电子科技大学电子科学技术研究院	22	106	7.0	8.0
4	靳丽娜	电子科技大学电子科学技术研究院	2	9	2.0	2.0