基于地面加速测试的大气中子软错误率评估方法研究

• 作者: 彭超
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 地面宇宙射线 大气层中子 单粒子效应 软错误率 加速测试
• 年，卷（期）: 2017,（5）
• 所属期刊栏目: 电子元器件与可靠性
• 页码范围: 60-64
• 页数: 5页
• 分类号: P162|TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2017.05.012

摘要

大气中子单粒子效应导致的集成电路软错误给应用于地面和大气层中的具有高可靠性要求的电子系统带来了严重的失效风险,因此有必要对集成电路的大气中子软错误率进行评估.重点研究了大气中子导致的集成电路软错误的错误率的加速测试技术.首先,分别基于JESD 89A标准和EXPACS仿真工具计算了地球大气层中不同海拔处的中子通量,结果表明大气中子辐射场受海拔高度的影响非常明显;然后,以一款存储器电路为例,探讨了基于单能中子/质子源和散裂中子源的大气中子软错误率加速测试方法;最后,分别利用这两种方法对该存储器电路在海平面和飞机飞行高度处的软错误率进行了计算,飞机飞行高度处更高的软错误率表明航空飞行器面临着更严重的可靠性风险.

作者信息

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1	彭超		1	0	0.0	0.0