电子设备电磁辐射敏感度测试相关问题研究

• 作者: 万浩江 卢新福 潘晓东 赵凯 魏光辉
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁辐射 敏感度 测试技术 电磁兼容
• 年，卷（期）: 2020,（7）
• 所属期刊栏目: 高功率微波技术
• 页码范围: 74-80
• 页数: 7页
• 分类号: TM15|TM564
• 字数: 6064字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB202032.200088

摘要

针对部分电子设备通过国军标所规定的电磁兼容试验考核后,在实际训练、作战使用过程中仍存在电磁不兼容等现实问题,在对现行标准中的技术要求和测试方法进行系统分析的基础上,结合研究团队近几年在电子信息装备电磁环境效应研究方面的技术积累,探讨了测试过程中未寻找受试设备敏感接收方向、带内频点电磁辐射敏感度测试缺失以及多辐射源共同作用导致受试设备敏感度阈值显著降低等几个方面对电子信息装备电磁辐射敏感度测试结果的影响,在此基础上给出了解决上述相关问题的措施和建议,探讨了强场电磁辐射效应试验技术及电子设备复杂电磁环境适应性评估技术的发展趋势.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	魏光辉	陆军工程大学石家庄校区电磁环境效应重点实验室	15	2	1.0	1.0
2	潘晓东	陆军工程大学石家庄校区电磁环境效应重点实验室	14	3	1.0	1.0
3	万浩江	陆军工程大学石家庄校区电磁环境效应重点实验室	7	2	1.0	1.0
4	卢新福	陆军工程大学石家庄校区电磁环境效应重点实验室	6	1	1.0	1.0
5	赵凯	陆军工程大学石家庄校区电磁环境效应重点实验室	4	0	0.0	0.0