一种新的XP过程软件可靠性预测模型

• 作者: 吴智 王晓华 赵明
• 来源期刊: 贵州大学学报(自然科学版)
• 学科: 数学
• 关键词: XP过程 软件可靠性 齐次泊松过程 软件可靠性增长模型
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: 数学
• 页码范围: 565-567
• 页数: 3页
• 分类号: O211
• 字数: 1759字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-5269.2008.06.005

摘要

研究了基于XP软件制造过程的一种软件可靠性预测方法,该方法把XP过程中每阶段用户反馈的信息尽量的考虑进数学模型的建立,为预测XP过程软件可靠性提供了一个新的思路.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵明		33	114	7.0	9.0
2	吴智		2	7	1.0	2.0
3	王晓华		6	11	2.0	3.0