频率特性测试仪

• 作者: 何欣 唐铭杰 施智强 沈骋曦
• 来源期刊: 国外电子元器件
• 学科: 工学
• 关键词: 幅频特性 相频特性 现场可编程门阵列(FPGA) 单片机 DDS
• 年，卷（期）: 2008,（12）
• 所属期刊栏目: 测控与仪器仪表
• 页码范围: 9-11
• 页数: 3页
• 分类号: TM935.23
• 字数: 1578字
• 语种: 中文

摘要

以集成的直接数字合成器(DDS)AD9851为核心,利用现场可编程门阵列(FPGA)及外围测量电路,设计并实现了一个频率特性测试仪,可用于测试某一特定网络的频率特性.并给出了幅频和相频特性曲线,并采用软件修正方法提高了整个系统输出的稳定性和可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐铭杰	武汉大学电子信息学院	3	10	2.0	3.0
2	施智强	武汉大学电子信息学院	2	8	2.0	2.0
3	何欣	武汉大学电子信息学院	2	8	2.0	2.0
4	沈骋曦	武汉大学电子信息学院	1	2	1.0	1.0