多层掺杂对一维光子晶体缺陷模的影响

• 作者: 刘启能 张翠玲 林睿 胡莉
• 来源期刊: 重庆工商大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 光子晶体 特征矩阵 缺陷模 多掺杂
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 电子信息技术
• 页码范围: 354-357
• 页数: 4页
• 分类号: O436
• 字数: 1972字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-058X.2008.04.005

摘要

采用特征矩阵法计算了一层掺杂、双层掺杂和三层掺杂情况下缺陷模的变化特征,得到了掺杂层数的变化对缺陷模的数目、峰高和半高宽都有明显的影响.一层掺杂时,只出现一个中心缺陷模;双层掺杂和三层掺杂时除了出现中心缺陷模外,在中心缺陷模的两侧还出现了两个对称缺陷模,中心缺陷模的半高宽随掺杂层数的增加而减小.对称缺陷模的峰高和半高宽都随掺杂层数的增加而减小;对称缺陷模的位置随掺杂层数的增加而向中心缺陷模移动.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘启能	重庆工商大学计算机科学与信息工程学院	169	1028	19.0	24.0
2	张翠玲	重庆工商大学计算机科学与信息工程学院	15	38	4.0	5.0
3	胡莉	重庆工商大学计算机科学与信息工程学院	17	32	4.0	5.0
4	林睿	重庆工商大学计算机科学与信息工程学院	16	90	5.0	9.0