X射线测厚原理模型分析与实验

• 作者: 陆永耕
• 来源期刊: 上海电机学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: X射线 测厚 模型 修正 实验
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 电气工程
• 页码范围: 177-180
• 页数: 4页
• 分类号: TH821.1|TQ320.721
• 字数: 2874字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-0020.2008.03.004

摘要

通过分析吸收系数、材质、密度、温度等对X射线扫描测厚仪厚度参数的影响,对X射线测厚原理模型进行了研究,并对其原理模型的计算公式进行修正.结果表明,在一段时间内,修正的模型可以满足精度要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陆永耕	上海电机学院电气学院	33	52	4.0	5.0