浮栅ROM器件γ射线、X射线和中子辐射效应实验研究

• 作者: 何宝平 姚志斌 张凤祁
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 浮栅ROM器件 γ射线 X射线 中子 总剂量效应
• 年，卷（期）: 2007,（4）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 489-492
• 页数: 4页
• 分类号: TN386.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6931.2007.04.022

摘要

本工作涉及浮栅ROM器件AT29C256的γ射线、X射线和反应堆快中子辐照实验测量.测量结果表明,浮栅ROM器件γ射线、X射线和快中子辐照效应是典型的总剂量效应.错误发生存在剂量阈值,开始出错时的错误数及错误地址不确定,错误数随辐照剂量或注量的增大而增加.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何宝平		46	291	9.0	13.0
2	张凤祁		40	169	8.0	10.0
3	姚志斌		35	171	8.0	10.0