X射线荧光录井资料基本解释方法

• 作者: 何国贤 康永贵 朱根庆
• 来源期刊: 录井工程
• 学科: 工学
• 关键词: 定量录井 图谱法 曲线法 数值法 数学地质 定量解释 泥质含量 孔隙度
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 工艺技术
• 页码范围: 6-11
• 页数: 6页
• 分类号: TE1
• 字数: 4255字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9803.2008.04.002

摘要

XRF录井技术的推广,给钻井新工艺条件下的岩性识别增添了新的手段,也为岩屑录井向定量化发展提供了新途径.从X射线荧光分析图谱、数值、曲线、元素组合及数学地质等方面,建立了XRF录井资料解释方法.以上述基本解释评价方法为基础,尝试应用XRF录井资料进行泥质含量和孔隙度的定量解释.由应用实例证实,XRF对泥质含量和孔隙度的检测结果与测井解释及化验室的分析具有较好的相关性,说明方法是可行的.从应用前景上分析,XRF在钻井现场对岩性、物性的分析识别,不仅在实时性上有优势,且方法独特,不受钻井液及钻井方式的影响.随着XRF 井技术研究的深入,资料解释评价方法将会逐步完善,在油气勘挥开发中将会发挥重要作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱根庆		6	74	3.0	6.0
2	何国贤		1	48	1.0	1.0
3	康永贵		1	48	1.0	1.0