NI推出首款基于PXI的源测量单元和业界最高密度的PXI开关模块——全新高精度直流产品把PXI平台功能延伸至半导体测试领域

• 来源期刊: 自动化信息
• 学科: 工学
• 关键词: PXI平台 半导体测试 开关模块 测量单元 高密度 美国国家仪器有限公司
• 年，卷（期）: zdhxx_2008,（3）
• 页码范围: 13
• 页数: 1页
• 分类号: TM935

摘要

美国国家仪器有限公司（简称NI）宣布正式发布其第一款基于PXI的源测量单元（source measure unit，SMU）和业界最高密度的PXI开关模块。这两款产品将PXI平台的应用延伸至高精密度直流测试领域，如半导体参数测试及电子设备器件的验证。工程师们可以同时使用这两款模块在多管脚设备上扫描电压和电流的特征参数，